Regimasis spektrometras LVD-8

Produkto savybės
● Didelės skiriamosios gebos C-T struktūros monochromatorius, geras stabilumas, atkuriamumas ir tikslumas.
● Pažangi ARM mikrokompiuterio technologija, puiki elektroninė grandinė ir signalų apdorojimas, stabilūs ir patikimi duomenys, U disko duomenų saugojimas ir eksportas, programinės įrangos atnaujinimas vienu spustelėjimu, "Bluetooth" spausdinimas ir kitos duomenų išvestys.
● Integruotas aviacinio aliuminio lydinio substratas, apdirbta reflektoriaus vieta, užtikrinanti ilgalaikį optinio kelio stabilumą.
● 7 colių spalvotas didelis grafinis LCD ekranas su navigacinio meniu sąsajos dizainu, aiškiomis valdymo komandomis ir specialiomis funkcijomis, kad būtų išvengta naudotojo klaidų. Vartotojai gali valdyti netikrindami vadovo; jutiklinio ekrano ir mygtuko dvigubo valdymo režimas, galima valdyti ir su pirštinėmis.
● Griežtas gamybos procesas ir 32 pagrindiniai kokybės kontrolės punktai užtikrina, kad kiekvienas prietaisas būtų labai patvarus.
● Didelės talpos atmintis, kurioje galima saugoti daugybę bandymų duomenų.
● Volframo lempos, fotoelementai, tikslieji varžtai ir kiti pagrindiniai komponentai atrinkti iš gerai žinomų ir importuojamų prekės ženklų, kad būtų užtikrinta prietaiso kokybė.
● Keturių lizdų 10-50 mm universalus reguliuojamas rankinis mėginių laikiklis, kad būtų lengviau atlikti įvairių specifikacijų kiuvečių bandymus.
● Nepriklausomai suprojektuoti deuterio lempos ir volframo lempos keitimo langeliai, kad būtų lengva pakeisti.

Gaminio funkcijos

1. Fotometrinis matavimas: Galite pasirinkti reikiamą vieno taško bandymo bangos ilgį ir bandymo metodą 320-1100 nm diapazone, kad išmatuotumėte mėginio absorbciją arba pralaidumą. Taip pat galite tiesiogiai nuskaityti mėginio koncentraciją, įvesdami standartinę koncentraciją arba koncentracijos koeficientą.

2. Kiekybinis matavimas: Matuokite nežinomos koncentracijos mėginių tirpalus naudodami žinomų parametrų koeficientų kreives arba automatiškai nustatykite standartinių tirpalų kreives; su pirmos eilės ir pirmojo nulio kirtimo, antros eilės, trečios eilės kreivių suderinimu ir vieno bangos ilgio korekcija, dviejų bangos ilgių korekcija, pasirinktinai trijų taškų metodas; standartines kreives galima išsaugoti ir iškviesti.

3. Kokybinis matavimas: Nustatykite bangos ilgio diapazoną, nuskaitymo intervalus, tada nustatytais intervalais matuokite kietųjų arba skystųjų mėginių absorbciją, pralaidumą, atspindį ir energiją. Taip pat galite uždengti, priartinti, išlyginti, filtruoti, aptikti smailę ir slėnį, išsaugoti, spausdinti ir t. t. išmatuotus spektrus.
4. Laiko matavimas: Laiko matavimas dar vadinamas kinetiniu matavimu. Mėginys nuskaitomas nustatyto bangos ilgio taške absorbcijos arba pralaidumo laiko intervalu. Įvedus koncentracijos koeficientą, absorbciją taip pat galima paversti koncentracija arba apskaičiuoti reakcijos greitį.
Fermentų kinetinės reakcijos greičio apskaičiavimas. Taip pat galima rinktis iš įvairių spektro apdorojimo metodų, pavyzdžiui, superpozicijos, masteliavimo, išlyginimo, filtravimo, smailės ir slėnio aptikimo ir išmatuoto spektro išvedimo.
5. Kelių bangos ilgių matavimas: Galima nustatyti kelis bangos ilgio taškus mėginio tirpalo absorbcijai arba pralaidumui matuoti. Galima nustatyti N bangos ilgių bandymo bangos ilgių, kad būtų galima patikrinti absorbcijos ir pralaidumo vertes esant vienam bangos ilgiui.
6. Priemonės kalibravimo matavimas: Integruotas specialus bangos ilgio didžiausios leistinos paklaidos kalibravimas, pralaidumo didžiausios leistinos paklaidos matavimas ir išsklaidytos šviesos matavimas.
7. Papildomos funkcijos: deuterio lempos, volframo lempos apšvietimo kaupiamasis laikas, deuterio lempos, volframo lempos nepriklausomas išjungimas ir atidarymas, ultravioletinės ir regimosios šviesos perjungimo bangos ilgio taško pasirinkimas, darbo kalbos pasirinkimas (kinų, anglų), automatinis bangos ilgio kalibravimas, "Bluetooth" funkcija ir kt.
8. Neprivalomas kompiuterio atvirkštinio valdymo programinės įrangos paketo funkcijos: kiekybinis matavimas, kokybinis matavimas, laiko matavimas, kelių bangų ilgių matavimas, 3D grafikos analizė, spektro perdangos analizė ir kt.

SPECIFIKACIJOS