Kuvaus
Spektrofotometriaa käytetään usein entsyymiaktiivisuuden mittauksissa, proteiinipitoisuuksien määrittämisessä, entsyymikineettisten vakioiden määrittämisessä ja ligandien sitoutumisreaktioiden mittauksissa. Spektrofotometrien käyttö kattaa useita tieteenaloja, kuten fysiikan, materiaalitieteen, kemian, biokemian, kemiantekniikan ja molekyylibiologian.
Ominaisuus
1. Korkea vakaus: Czerny-Turner-tyyppinen kaksoissädeoptinen järjestelmä vähentää kromaattista aberraatiota ja varmistaa tietojen pitkän aikavälin vakauden.
2. Korkea tarkkuus: mikrometrin mittakaavan tarkkuusjohtoruuvin käyttö ritilän ohjaamiseen takaa aallonpituuden tarkkuuden <±0,3 nm; läpäisykyvyn tarkkuus on ±0,3 % T, tarkkuus saavuttaa luokan I tason.
3. Helppo käyttää: Kvantitatiivinen, kvalitatiivinen, dynaaminen, dynaaminen, DNA / RNA, moniaallonpituusanalyysi ja muut erityiset testimenettelyt.
4. Pitkä käyttöikä: alkuperäinen tuotu ksenonlamppu, volframilamppu, joka takaa pitkän käyttöiän 2 vuotta, vastaanottimen käyttöikä jopa 20 vuotta.
5. Erilaisia lisävarusteita: automaattinen näytteenottaja, mikrosolunpidin, integroitu pallon diffuusi heijastus, 5 ° peiliheijastus ja muut lisävarusteet, vastaamaan erityisvaatimuksia.
Toiminto
1. Fotometrinen mittaus: Se on kätevä mitata näytteen absorbanssi ja läpäisykyky määritetyllä aallonpituudella. Kiinteän pisteen testillä voidaan testata jopa 10 aallonpituutta samanaikaisesti.
2. Kvantitatiivinen mittaus: automaattinen standardikäyrän laatiminen, ensimmäisen asteen / ensimmäisen asteen nollakäyrän, toisen asteen, kolmannen asteen käyrän simulointi 3. Kvalitatiivinen mittaus: skannausnopeus 3500 nm / min, kartan käsittelymenetelmät, mukaan lukien skaalaus, tasoitus, suodatus, piikin laakson havaitseminen jne.
4. Kineettinen mittaus: entsyymin kineettisen reaktionopeuden laskeminen, skaalaus, tasoitus, suodatus, piikin ja laakson havaitseminen, derivointi jne.
5. DNA/RNA-, proteiinitestaustoiminto, näytteen suhteen ja konsentraation automaattinen laskenta.
Tekniset tiedot
| Malli | LU-1810D | LU-1810DS |
| Optinen järjestelmä | CT-tyyppinen kaksoissädeoptinen järjestelmä, 1200 nauhaa / mm holografinen säleikkö, joka jakaa polttoväliä 280 nm. | |
| Aallonpituusalue | 190-1100 nm | |
| Spektrinen kaistanleveys | 1,8 nm | 0.5,1,2,4,5nm säädettävissä |
| Aallonpituuden tarkkuus | ±0,3nm | |
| Aallonpituuden toistettavuus | ±0.1nm | |
| Läpäisevyyden tarkkuus | ±0.3%T；±0.002Abs（0-0.5Abs）; ±0.004Abs（0.5-1.0Abs） | |
| Läpäisevyyden toistettavuus | ±0.1%T；±0.001Abs（0-0.5Abs）;±0.002Abs（0.5-1.0Abs） | |
| Häiriövalo | ≤0,03 % T, 220 nm:ssä ja 360 nm:ssä. | |
| Kohina | ±0,0004Abs | |
| Drift | ±0,0008Abs（500nm, esilämmityksen jälkeen）. | |
| Perusviivan tasaisuus | ±0.0008Abs | |
| Perusviivan tumma kohina | 0.05%T | |
| Valovoima-alue | 0～200%T/-4～4A/0～9999C（0-9999F） | |
| Valonlähde | tuotu volframilamppu ja deuteriumlamppu | |
| Skannausnopeus | korkea/ keskitaso/ matala kolme nopeutta säädettävissä | |
| Näyttö | 320X240nm graafinen LCD | |
| Tiedon ulostulo | USB-liitäntä, Centronics-rinnakkaisportti (valinnainen HP-, Epson-yhteensopiva laser-, mustesuihkutulostin ja mikrotulostin). | |
| Virtalähde | 90-250V/AC,50-60HZ | |
